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透射电子显微镜
 
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主要技术指标:

点分辨率:0.24nm

信息分辨率:0.14nm

放大倍数:25~1030K

最高加速电压:200KV

样品最大倾角:±40°

应用范围:

Tecnai G2 F20 S-TWIN 是由FEI公司开发的多功能、多用户环境的200KV场发射透射电子显微镜。它将各种透射电镜技术(包括TEMSADSTEMEDX等)方便灵活地有机组合,形成强大的分析功能。

高性能的透射电子成像、扫描透射成像,用于观察研究材料结构并对样品进行纳米尺度的微分析。如:高分辨电子显微观察,选区电子衍射,能谱分析,Z-衬度(原子序数)成像,元素的线、面分布等。


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